Акустический микроскоп OKOS VUE 250-P NewGen от компании ЭСТ-СМТ
Уважаемые посетители и участники выставки ЭкспоКонтроль 2021,
Рады представить вам обновлённый сканирующий акустический микроскоп OKOS VUE 250-P NewGen(США). Эта модель вобрала в себя все самые прогрессивные технологии в индустрии неразрушающего контроля и является одной из самых компактных и универсальных решений на рынке. Система будет представлена на стенде ООО «ЭСТ-СМТ» D10 Павильона 8.2, приглашаем всех желающих на презентацию.
В течение всей выставки мы будем демонстрировать возможности установки на различных компонентах. Вы также можете привезти свои компоненты для проведения тестового сканирования. Результаты сканирования вы сможете записать на USB накопитель.
Основные технические характеристики:
|
Область сканирования XYZ |
323 х 136 х 35 мм |
|
Разрешающая способность |
до 1мкм |
|
Макс. Скорость сканирования |
500мм/сек |
|
Частоты применяемых излучателей |
5 – 250 МГц |
|
Габаритные размеры |
700 х 560 х 470,мм |
|
Вес |
81 кг. |
Система VUE 250-P прекрасно подходит для работы с микросхемами, композитами, сплавами, паянными соединениями, пластмассами, керамикой и т.д.
Новейшее программное обеспечение позволяет в режиме реального времени анализировать полученные данные для выявления поверхностных и подповерхностных дефектов.
Примеры результатов сканирования полученные на микроскопе.
Cледы шлифовки и перемаркировки
Маркировка и топология инкапсулированной микросхемы
Пустоты в слое пайки
Стенд компании ЭСТ-СМТ на выставке Экспо Контроль 2021 – Павильон 8-2 «Testing Expo», #82D10