• Вконтакте
  • Facebook
  • Instagram
  • YouTube
Забронировать стенд
Регистрация
Фото с выставки
Отзывы
...
+7 (495) 786-01-78
Заказать звонок
О выставке
Тематика
Программа
Участие
Фото
Контакты
Ещё
    13 - 15 сентября 2023
    Москва ЦВК "Экспоцентр"

    Экспо Контроль
    Забронировать стенд
    ВходМой кабинет
    О выставке
    Тематика
    Программа
    Участие
    Фото
    Контакты
    Ещё
      Экспо Контроль
      О выставке
      Тематика
      Программа
      Участие
      Фото
      Контакты
      Ещё
        Экспо Контроль
        • О выставке
        • Тематика
        • Программа
        • Участие
        • Фото
        • Контакты
        • Мой кабинет
        • +7 (495) 786-01-78
        Будьте на связи
        Москва, Краснопресненская наб., д.14 ЦВК "Экспоцентр", Павильон 3
        info@expocontrol.online   
        • Facebook
        • Вконтакте
        • Instagram
        • YouTube
        • Экспо Контроль
        • Новости
        • Акустический микроскоп OKOS VUE 250-P NewGen от компании ЭСТ-СМТ

        Акустический микроскоп OKOS VUE 250-P NewGen от компании ЭСТ-СМТ

        Акустический микроскоп OKOS VUE 250-P NewGen от компании ЭСТ-СМТ
        10 Августа 2021

        Акустический микроскоп OKOS VUE 250-P NewGen от компании ЭСТ-СМТ

        Уважаемые посетители и участники выставки ЭкспоКонтроль 2021,

        Рады представить вам обновлённый сканирующий акустический микроскоп OKOS VUE 250-P NewGen(США). Эта модель вобрала в себя все самые прогрессивные технологии в индустрии неразрушающего контроля и является одной из самых компактных и универсальных решений на рынке. Система будет представлена на стенде ООО «ЭСТ-СМТ» D10 Павильона 8.2, приглашаем всех желающих на презентацию.

        В течение всей выставки мы будем демонстрировать возможности установки на различных компонентах. Вы также можете привезти свои компоненты для проведения тестового сканирования. Результаты сканирования вы сможете записать на USB накопитель.

        Основные технические характеристики:


        Область сканирования XYZ

        323 х 136 х 35 мм

        Разрешающая способность

        до 1мкм

        Макс. Скорость сканирования

        500мм/сек

        Частоты применяемых излучателей

        5 – 250 МГц

        Габаритные размеры

        700 х 560 х 470,мм

        Вес

        81 кг.


        Система VUE 250-P прекрасно подходит для работы с микросхемами, композитами, сплавами, паянными соединениями, пластмассами, керамикой и т.д.

        Новейшее программное обеспечение позволяет в режиме реального времени анализировать полученные данные для выявления поверхностных и подповерхностных дефектов.

        Примеры результатов сканирования полученные на микроскопе.

        Cледы шлифовки и перемаркировки

        Маркировка и топология инкапсулированной микросхемы

        Пустоты в слое пайки

        Стенд компании ЭСТ-СМТ на выставке Экспо Контроль 2021 – Павильон 8-2 «Testing Expo», #82D10

        Поделиться
        Вернуться
        Организатор
        Выставочная компания "РИ ЭВЕНТС"
        Тел: +7(495)786-01-78
        E-mail: info@expocontrol.online    
        Связаться с нами
        При возникновении вопросов по регистрации обращаться на почту или по телефону.

        +7 (495) 786-01-78
        Заказать звонок
        info@expocontrol.online   
        Москва, Краснопресненская наб., д.14 ЦВК "Экспоцентр", Павильон 3
        Мы в соцсетях
        • Вконтакте
        • Facebook
        • Instagram
        • YouTube
        Версия для
        печати
        © 2023 Copyright © Выставочная компания "РИ Эвентс"

        Разработано в

        О выставке
        Участие
        Программа
        Забронировать стенд
        Размещение
        Политика конфиденциальности